Добрый день, совершенно верно, чем ближе линия к 1, тем ближе вероятность распознавания дефекта к 100%. Статистический тест «скользит» по тестируемому содержимому буфера поступающих в реальном времени показаний датчиков и «выписывает» кривую. Первый график соответствует тестированию примера дефекта на подобие самому себе, второй график — тестированию текущего содержимого буфера на подобие примеру дефекта.
Демо решения из статьи можно посмотреть здесь: https://www.youtube.com/@C-NLTX
Find demos of the solution described in the article here: https://www.youtube.com/@C-NLTX