Search
Write a publication
Pull to refresh
9
0
Send message
Да, именно это можно увидеть на рис.6.(predictor). Но надо понимать, что это не какие-то абстрактные части микросхемы, а определённые элементы (в статье рассказывалось про МОП-транзисторы например и логические элементы на их основе). Понятно, что алгоритм обучен не на всевозможных элементах, в этом и есть дальнейший потенциал развития этого подхода. Нужно узнавать о новых видах аппаратных угроз и обучаться выявлять их также.
Раньше было именно так, в описанной статье 2018 года (она вторая в списке литературы) было необходимо сравнение с эталоном устройства, вводилась функция похожести образца на эталон. Потом эти же авторы представили усовершенствованный подход (третья статья в списке), в котором уже проверяли определённые части микросхем (зачастую это были транзисторы). Т.е. само эталонное устройство не нужно, предиктор обучен на размеченных фотографиях основных элементов микросхем и способен различить, является ли исследуемый элемент подозрительным или нет.

Information

Rating
Does not participate
Registered
Activity