Comments 13
Судя по фото на КДПВ - материнская плата, а точнее конденсаторы на ней, испытания таки не прошли:)
А где, собстственно, статья?
Для вопросов есть https://qna.habr.com
Тема то интересная, но не заинтриговала статья-вопрос. Например очень интересно, что лучше выбрать при замене конденсатора, запас по вольтажу/емкости/комбинировать, ждем статей.
В зависимости требований к конечному изделию. Вообще, если есть вопросы касательно выбранной тематики, можно их в личку задать, и я попробую на все постепенно ответить. Несмотря на то, что я к схематехнике прямого отношения не имею, есть возможность пообщаться непосредственно с разными разработчиками и получить разностороннее мнение на интересующие вопросы.
Да, я понимаю, что это тема для отдельной статьи и возможно даже не одной, потому что они выполяют разные функции, и у некоторых даже нельзя менять ТТХ. Вот тут бы и собрать инфу в одну тему, вы же тестируете одинаковые схемы с разными конденсаторами (по емкости/вольтажу) и можете дать какую-то инфу с точки зрения тестировщика? Или вы тестируете не на износ, а на работоспособность?
Основная задача испытательных лабораторий это проверка на работоспособность, то есть проверка параметров по даташиту до, вовремя и после климатических и механических воздействий. Единственные ресурсные испытания - это ускоренные испытания на безотказность и сохраняемочть, при которых образцы под нагрузкой и без могут по несколько тысяч часов томиться в климатических камерах, например при плюс 85 градусов по Цельсию
Вот, уже интересное потянуло. Почему именну 85? И полтора месяца(если считать от тысячи часов)? Есть какие-то мимнимальные требования к выживаемости, например 5% не выдержало = приемлемый результат?
85 градусов, это пример, часто просто предельная рабочая температура микросхемы равна по даташиту 85, встречается и 125...
Минимальная наработка до отказа, например для космической отрасли может составлять более 100 000 часов. Однако натурные испытания никто не проводит, так как нецелесообразно, соответственно, пользуясь ГОСТ Р 57394–2017. "Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность" 100 000 часов ускоряют до нескольких тысяч. Коэффициент ускорения рассчитывается по формулам, учитывающим температуру окружающей среды, при которой будет использоваться микросхема, предельную температуру работы, количество микросхем в выборке из партии и ряд других параметров.
Как правило допустимый процент отказов при таких испытаниях равен 0, т.е. если хоть одна микросхема во время периодических замеров не проходит по параметрам, то бракуется вся партия.
Уважаемый @Zelenyikot я тут нашел человека, который испытания микросхемам перед запуском в космос делает. У вас появится пара вопросов интересных?
У вас ус отклеился конденсатор вздулся.
Начало 2.0. Буду рассказывать об испытаниях микросхем, бизнесе, технологиях и бережливом производстве