![](https://habrastorage.org/r/w1560/getpro/habr/upload_files/1ba/98b/79a/1ba98b79a7484c5dd9212f7f5b0449b1.png)
Когда я плотно занимался аппаратным тестированием, в рамках разработки embedded-устройств, часто бывало так, что инженеры-разработчики и я оказывались в условиях жесткого ограничения в выборе возможных компонентов NAND или eMMC. И в этой связи очень часто возникала необходимость дополнительных проверок каждого из компонентов на долговечность и качество работы. Очень часто приходилось проверять чипы-кандидаты на общий ресурс записи/чтения, скорости операций и т. п. И мне пришла идея, почему бы не поделиться своим опытом с другими специалистами, перед которыми стоят аналогичные задачи. Я хотел бы рассказать в данной статье, что такое Flash-память, почему они выходят из строя и как я организовал тестирование, как через тестирование минимизировать риски при выборе устройства хранения для разрабатываемого устройства.
Всем, кому интересна данная тема — приглашаю под кат.